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Poids de l’Open access dans la production CNRS

Titre

Reliability and Failure Analysis of UHF RFID Passive Tags Under Thermal Storage

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BSO - Titre

Reliability and Failure Analysis of UHF RFID Passive Tags under Thermal Storage

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DOI

DOI10.1109/tdmr.2017.2733519

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DOAI

DOAI10.1109/tdmr.2017.2733519

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Identifiant WoS

WOS:000409527000007

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Accès ouvert

OA - Oui

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Source - Accès ouvert

OA - Non

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Type d'accès

Archive

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Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

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Source

IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY

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ISSN

1530-4388

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Type de document

Article

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Notoriété

2 - Acceptable

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CNRS

Oui

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CNRS - Institut

INP - Institut de physique

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